石英晶体与空气的摩擦(表面损耗)形成的阻力有关。可通过对外盒抽真空以减小损耗,与温补晶振表面微粒间的摩擦有关。可提高石英片表面光洁度,控制腐蚀量,减小砂痕、沙坑、提高银层的牢固度及整体性来减小,与贴片晶振的内摩擦,自由振动时内部晶格的变化,产生内应力及加工过程中形成的内应力而引起内部损耗有关。
在确定石英晶振片切角误差时,还应对照图3.2.5曲线,估计有无加工的可能性。对于AT切由XX’角误差引起的ZZ’角之测试误差见图3.2.6
【例】对于HC-49U/s-SMD-8000KHlz规格进行晶振频率温度特性测试,并修正切角。
(1) 其石英片规格为石英片长度Lx=7.995mm,Wz=1.985mm,最后滚倒频率为fG=7865±15KHz,石英片厚度tG=0.212mm,平台长轴LX=5.77mm,倒边半径R=60mm,留边量t0≤0.08mm,切型切角为AT35°13’±1’。
CEOB2B晶振平台以下给大家介绍的是有关石英晶振的压电常数与切型,在前面的文章中我们有提到过石英晶振切型的选择与弹性常数,欢迎需要了解的新老用户登入平台查看.
石英晶体元件是通过逆压电效应进行工作的,所以切型设计与压电常数有关。通过上节讨论,我们已经知道石英晶体压电常数矩阵为:
石英晶振有源化,一些高端的产品以目前的技术条件下,是绝对离不开有源晶振的,比如一些网络交换仪,或者是通讯产品,通信的基站等等,随着移动通信产品使用的人越来越多,基站也得到大批量的增加,所以有源晶振也从最初的普通-20--+70度普及到现在的-40度-85度之间,甚至更高的要求,至此日本爱普生株式会社在技术上不断的提升,使自身产品得到市场广大的认可!
用一般的万用表是不能测出晶振的好坏的,这里提供了一种简单而实用的晶振检验器,它只采用一个 N 沟道结型场效应管(FET),两个普通 NPN 小功率晶体三极管,一个发光管和一些阻容元件,便可有效的检验任何晶振的好坏。
外观尺寸方面,精工晶体最早采用SMD模式,而且精工晶体产品基本被高端主流电子产品采用,好比全球最小的一颗32.768K插件晶体1.2*4.7mm,率先被广泛使用到MP3,MP4等电子产品,贴片晶振SSP-T7-F这颗料,被疯狂的使用于移动手机,智能手机,触摸笔记本等较高端的产品。精工晶体!精工品质!
石英晶体振荡器与石英晶体谐振器都是提供稳定电路频率的一种电子器件。石英晶体振荡器是利用石英晶体的压电效应来起振,而石英晶体谐振器是利用石英晶体和内置IC共同作用来工作的。在通信系统产品中,石英晶体振荡器的价值得到了更广泛的体现,同时也得到了更快的发展。许多高性能的石英晶振主要应用于通信网络、无线数据传输、高速数字数据传输等。
每个数字电子设备都需要一个参考时钟,晶体振荡器被广泛用于实现这一目的.验证高性能器件的频率特性需要准确的频率测量.本文档概述了各种晶振频率测量方法和仪器,旨在帮助ILSI MMD MEMS振荡器的用户进行精确的频率测量.
常见的石英晶振频率测量问题
用不同频率计数器进行的测量不匹配
不同频率计数器测量结果之间的差异可能是由以下一个或多个原因引起的.
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主营 :石英晶振,贴片晶振,有源晶振,陶瓷谐振器,32.768K晶振,声表面谐振器,爱普生晶振,KDS晶振,西铁城晶振,TXC晶振等进口晶振
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石英晶体振荡器的压电效应以及等效电路原理
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