在确定石英晶振片切角误差时,还应对照图3.2.5曲线,估计有无加工的可能性。对于AT切由XX’角误差引起的ZZ’角之测试误差见图3.2.6
【例】对于HC-49U/s-SMD-8000KHlz规格进行晶振频率温度特性测试,并修正切角。
(1) 其石英片规格为石英片长度Lx=7.995mm,Wz=1.985mm,最后滚倒频率为fG=7865±15KHz,石英片厚度tG=0.212mm,平台长轴LX=5.77mm,倒边半径R=60mm,留边量t0≤0.08mm,切型切角为AT35°13’±1’。
一级、二级、三级温度系数a0、b0和c0不仅与参考温度有关,而且还与石英晶振切角有关。AT切型的a0、b0、c0随角度的变化率为:
αa0/αφ1=-5.15×10-6/oC度;
αb0/αφ1=-4.7×10-9/oC2度;
αc0/αφ1=2.0×10-12/oC3度;
CEOB2B晶振平台以下给大家介绍的是有关石英晶振的压电常数与切型,在前面的文章中我们有提到过石英晶振切型的选择与弹性常数,欢迎需要了解的新老用户登入平台查看.
石英晶体元件是通过逆压电效应进行工作的,所以切型设计与压电常数有关。通过上节讨论,我们已经知道石英晶体压电常数矩阵为:
每个数字电子设备都需要一个参考时钟,晶体振荡器被广泛用于实现这一目的.验证高性能器件的频率特性需要准确的频率测量.本文档概述了各种晶振频率测量方法和仪器,旨在帮助ILSI MMD MEMS振荡器的用户进行精确的频率测量.
常见的石英晶振频率测量问题
用不同频率计数器进行的测量不匹配
不同频率计数器测量结果之间的差异可能是由以下一个或多个原因引起的.
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测量周期抖动方法A
1.配置示波器测量所有采集石英晶振样品,而不是仅测量第一个晶振.
2.配置示波器在屏幕上捕获10,000个时钟周期.例如,对于100MHz晶振,10K周期=100μS.由于显示屏通常包含10个水平分区,所以水平控制应设置为每分区10us.
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晶振抖动是一组信号边缘与其理想值的时序变化.时钟信号中的抖动通常是由系统中的噪声或其他干扰引起的.影响因素包括热噪声,电源变化,负载条件,设备噪声以及来自附近电路的干扰.
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首先介绍,正确的去耦,旁路和电源噪声降低在许多应用中非常重要,以确保石英振荡器的最佳性能.一种常见的策略是将电容器放置在印刷电路板(PCB)上的高速器件附近.这种电容器有两个重要功能:
• 为组件提供瞬时电流
• 减少通过系统的噪音传播
• 将电源噪声分流至GND以下各节描述单端和差分器件的去耦,旁路,噪声抑制和电源条件建议.
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主营 :石英晶振,贴片晶振,有源晶振,陶瓷谐振器,32.768K晶振,声表面谐振器,爱普生晶振,KDS晶振,西铁城晶振,TXC晶振等进口晶振
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石英晶体振荡器的压电效应以及等效电路原理
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